SiGe ASIC 기반의 초저지터 성능
비트와이즈는 자체 실리콘게르마늄 ASIC에 핵심 기능을 집적해 클록 350fsRMS, 데이터 600fsRMS(대표값) 수준의 매우 낮은 지터를 달성합니다. 채널당 1~28Gbps와 20ps급 빠른 에지를 컴팩트한 본체에서 구현해, 대형 랙 장비 없이도 고속 링크를 정밀 검증합니다.
BITWISE(비트와이즈) — 미국 실리콘밸리의 고속 신호무결성 계측 전문 브랜드. 회사 배경부터 굿맨시스템 추천 제품 TOP 5 까지 한 번에 정리했습니다 !!
데이터 전송 속도가 28Gbps, 56Gbps로 치솟고 PAM4·DDR5가 표준이 되면서 엔지니어의 고민도 깊어집니다. "이 채널의 비트에러율(BER)은 믿을 수 있나?", "임피던스 불연속은 어디서 생기나?" 고속 디지털 통신에서는 눈에 보이지 않는 지터와 반사 하나가 링크 전체의 신뢰성을 무너뜨립니다. 이 영역에서 정밀하고 실용적인 해답을 제시하는 이름이 바로 BITWISE(비트와이즈)입니다.
비트와이즈(BitWise Laboratories)는 미국 캘리포니아 실리콘밸리에 자리한 고속 신호무결성 계측기 전문 기업입니다. 창업자들은 수십 년간 시험·계측(Test & Measurement) 분야에 몸담아 온 베테랑 엔지니어로, 과거 SyntheSys Research를 공동 창업해 전 세계적으로 인정받은 BERTScope·BitAlyzer 시험장비를 개발했으며 해당 회사는 이후 텍트로닉스(Tektronix)에 인수되었습니다. 이 경험을 바탕으로 비트와이즈는 오늘날의 통신 설계 과제에 맞춘 RF·PAM4 계측 솔루션을 선보입니다.
비트와이즈의 핵심은 세계 수준의 실리콘게르마늄(SiGe) ASIC 기술입니다. 다수의 맞춤 기능을 칩 온다이(on-die)에 집적해 극도로 낮은 지터를 구현하고, 컴팩트하면서도 타협 없는 성능의 계측기를 합리적인 가격으로 제공합니다. 제품군은 패턴 제너레이터, 비트 에러 로케이션 분석기, STEPScope TDR 등 고속 디지털·RF 통신 시험 전 영역을 아우릅니다.
비트와이즈는 자체 실리콘게르마늄 ASIC에 핵심 기능을 집적해 클록 350fsRMS, 데이터 600fsRMS(대표값) 수준의 매우 낮은 지터를 달성합니다. 채널당 1~28Gbps와 20ps급 빠른 에지를 컴팩트한 본체에서 구현해, 대형 랙 장비 없이도 고속 링크를 정밀 검증합니다.
모든 장비의 사용자 인터페이스가 기기 내부에서 웹사이트 형태로 제공됩니다. 인터넷 연결 없이도 PC·모바일 어떤 브라우저에서든 접속해 설정과 측정이 가능하며, 자동화 제어는 TCP/IP 소켓의 ASCII 명령으로 처리돼 별도 소프트웨어 설치 부담이 없습니다.
단순 BER 측정을 넘어 에러가 발생한 정확한 비트 위치를 기록하고 FEC 정정 강도(T-value)까지 분석합니다. 여기에 TDR/TDT·S파라미터 측정까지 한 브랜드로 통합 운용할 수 있어, PAM4·NRZ 신호부터 PCB·케이블·커넥터 임피던스 진단까지 하나의 생태계에서 해결됩니다.
굿맨시스템이 실제 문의·납품 기준으로 정리한 대표 모델입니다.
디지털 통신 시스템·부품 개발과 평가에 필요한 시험 신호를 만들어내는 핵심 자극원입니다. 채널당 1~28Gbps, 차동 최대 2Vpp 진폭, 15ps(20/80)의 빠른 상승/하강 시간을 제공하며, 각 채널 4탭 프리엠퍼시스와 0~150ps 가변 지연(0.1ps 분해능)으로 정밀한 위상 정렬이 가능합니다. PRBS(n=7·11·13·15·20·23·31)와 사용자 패턴을 지원하고, 두 채널을 동기화해 2:1 멀티플렉스로 결합하면 PAM4·56Gbps급 신호 생성에도 활용됩니다.
추천 대상 고속 SerDes 개발, PAM4 신호 생성, 크로스토크 시험
최대 2개 동기 NRZ 데이터 스트림의 BER과 에러 위치 통계를 측정하는 검출기입니다. 각 채널 0~140ps 가변 지연(0.1ps 분해능)과 중심 기준 ±1000mV 가변 임계값으로 유연한 인터페이싱을 제공하며, 에러가 발생한 정확한 비트 위치를 기록해 버스트 길이·에러프리 구간·상관 히스토그램을 분석합니다. 204바이트 FEC 블록 등 사용자 지정 모듈로 단위 상관 분석과 FEC 정정 강도(T-value) 산출까지 지원해 PAM4·NRZ 링크의 심층 진단에 강합니다.
추천 대상 PAM4/NRZ BER 시험, FEC 유효성 검증, 패턴 민감도 분석
빠른 출력 펄서와 고대역·저지터 입력 샘플러를 하나로 통합한 컴팩트 TDR/TDT 계측기입니다. SiGe 기술로 20ps(10/90)의 빠른 펄스를 생성하고 100fs 미만의 타임베이스 분해능을 구현하며, 옵션으로 최대 18GHz 대역의 반사손실(S11)·삽입손실(S21) S파라미터 측정을 지원합니다. 단일 장비로는 반사(TDR) 분석을, 두 대를 연동하면 통과채널(TDT) 분석을 수행해 PCB 트레이스·케이블·커넥터의 임피던스 불연속을 정밀하게 찾아냅니다.
추천 대상 PCB·케이블·커넥터 임피던스 진단, RF 신호경로 디버그, 스큐 측정
패턴 제너레이터(PPG2CHA)와 결합해 DDR5 시험을 위한 턴키 솔루션을 완성하는 멀티기능 모듈입니다. 랜덤지터(RJ)·사인지터(SJ)·사인 간섭(SI) 소스와 REFCLK 신호를 제공해 스트레스 아이(Stressed Eye) 시험을 지원하며, 스트레스 클록은 RJ 10MHz~1GHz 대역, SJ 10kHz~200MHz 선택 최대 200ps PP를 제공합니다. ProbePower 인터페이스로 호스트에 연결하면 자동 인식·교정 정보 반영·DUT 제어까지 이뤄집니다.
추천 대상 DDR5 규격 적합성(Compliance) 시험, DDR5 설계 검증·R&D
STEPScope TDR 시스템과 함께 사용하는 원격 펄서 액세서리입니다. 펄스 발생 지점을 피시험 대상(DUT) 가까이로 옮겨 케이블·프로브 구간의 손실 영향을 줄이고, 원거리·접근이 까다로운 측정 포인트에서도 안정적인 스텝 응답 측정을 돕는 보조 장비입니다. STEPScope 기반 시험 구성의 유연성을 넓혀 줍니다.
추천 대상 원거리·현장형 TDR 측정, STEPScope 시험 구성 확장
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모델명이 정확히 일치하는 자료 4건을 4개 모델에 연결했습니다.
고속 신호무결성 계측기는 데이터레이트, 채널 수, 필요한 대역폭, PAM4·DDR5 등 대상 규격에 따라 구성이 크게 달라집니다. 자극원(패턴 제너레이터)과 검출기(에러 로케이션 분석기)를 어떻게 조합할지, TDR에 S파라미터 옵션이 필요한지 먼저 정리하면 정확한 선택에 가까워집니다.
굿맨시스템은 BITWISE 제품을 취급하며, 모델별 스펙 비교부터 시험 목적에 맞는 구성 제안, 견적까지 한 번에 지원합니다. 측정 대상과 데이터레이트만 알려주셔도 최적 구성을 추천해 드립니다.
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